ASTM E2698-2010 使用数字检测器阵列进行放射学检查的标准实施规程

作者:标准资料网 时间:2024-05-16 20:08:29   浏览:9761   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:StandardPracticeforRadiologicalExaminationUsingDigitalDetectorArrays
【原文标准名称】:使用数字检测器阵列进行放射学检查的标准实施规程
【标准号】:ASTME2698-2010
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2010
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:E07.01
【标准类型】:(Practice)
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:amorphousselenium;amorphoussilicon;digitaldetectorarray;imageprocessing;imagequalityindicator;nondestructivetesting;penetratingradiation;radiography;radiologicexamination;X-ray
【摘要】:Thispracticeestablishesthebasicparametersfortheapplicationandcontrolofthedigitalradiologicmethod.Thispracticeiswrittensoitcanbespecifiedontheengineeringdrawing,specification,orcontract.ItwillrequireadetailedproceduredelineatingthetechniqueorprocedurerequirementsandshallbeapprovedbytheCEO.1.1Thispracticeestablishestheminimumrequirementsforradiologicalexaminationformetallicandnonmetallicmaterialusingadigitaldetectorarray(DDA)system.1.2Therequirementsinthispracticeareintendedtocontrolthequalityofradiologicimagesandarenotintendedtoestablishacceptancecriteriaforpartsormaterials.1.3ThispracticecoverstheradiologicexaminationwithDDAsincludingDDAsdescribedinPracticeE2597suchasadevicethatcontainsaphotoconductorattachedtoaThinFilmTransistor(TFT)readoutstructure,adevicethathasaphosphorcoupleddirectlytoanamorphoussiliconread-outstructure,anddeviceswhereaphosphoriscoupledtoaCMOS(Complementarymetalx2013;oxidex2013;semiconductor)array,aLinearDetectorArray(LDA)oraCCD(chargecoupleddevice)crystallinesiliconread-outstructure.1.4TheDDAshallbeselectedforanNDTapplicationbasedonknowledgeofthetechnologydescribedinGuide,andoftheselectedDDApropertiesprovidedbythemanufacturerinaccordancewithPracticeE2597.1.5TherequirementsofthispracticeandPracticeshallbeusedtogetherandbothbeapprovedbytheCEOLevel3inRadiographybeforeinspectionofproductionhardware.TherequirementsofPracticewillprovidethebaselineevaluationandlongtermstabilitytestproceduresfortheDDAsystem.1.6TherequirementsinthispracticeshallbeusedwhenplacingaDDAintoNDTserviceand,beforebeingplacedintoservice,anestablishedbaselineofsystemqualificationshallbeperformedinaccordancewithPractice.1.7TechniquesandapplicationsemployedwithDDAsarediverse.Thispracticeisnotintendedtobelimitingorrestrictive.RefertoGuidesE94,E1000,,TerminologyE1316,PracticeE747andE1025,Fed.Std.Nos.21CFR1020.40and29CFR1910.96foralistofdocumentsthatprovideadditionalinformationandguidance.
【中国标准分类号】:N46
【国际标准分类号】:11_040_50
【页数】:9P.;A4
【正文语种】:英语


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【英文标准名称】:Guidetostatisticalprocesscontrol(SPC)chartsforvariables–Part3:Chartingtechniquesforshortrunsandsmallmixedbatches
【原文标准名称】:变量用统计过程控制(SPC)图表指南.小批量生产和少量混合料的制图技术
【标准号】:BS5702-3-2008
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2008-04-30
【实施或试行日期】:2008-04-30
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:图表;数据表示;工艺图表;过程控制;生产;质量保证;质量控制;统计方法分析;统计质量控制;变量
【英文主题词】:Charts;Datarepresentation;Processcharts;Processcontrol;Production;Qualityassurance;Qualitycontrol;Statisticalmethodsofanalysis;Statisticalqualitycontrol;Variable
【摘要】:ThispartofBS5702describeswaysofapplyingmeasureddatastatisticalprocesscontrol(SPC)chartstoshortrunsandsmallmixedbatcheswherethesamplesizeformonitoringisrestrictedtoone.Itprovidesasetoftoolstofacilitatetheunderstandingofsourcesofvariationinsuchprocessessothattheprocessescanbebettermanaged.Thechartsdescribedareprocess-ratherthanproduct-focused.Theusercanplot,monitorandcontrolsimilarcharacteristicsondifferentitems,ordifferentcharacteristicsonanitem,onasinglecontrolchart.
【中国标准分类号】:N17;A41
【国际标准分类号】:03_120_30
【页数】:40P.;A4
【正文语种】:英语


基本信息
标准名称:表面电阻测试仪校准规范
英文名称:Calibration Specification for Surface Resistance Tester
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布日期:2011-06-14
实施日期:2011-09-14
首发日期:
作废日期:
主管部门:全国电磁计量技术委员会
归口单位:全国电磁计量技术委员会
起草单位:江苏省计量科学研究院、中国计量科学研究院等
起草人:樊义、邵海明、李文洁等
出版社:中国质检出版社
出版日期:2011-09-14
页数:24页
适用范围

本规范适用于测量防静电物体表面电阻的表面电阻测试仪的校准。本规范不适用于其他用途的表面电阻测试仪的校准。

前言

没有内容

目录

1 范围 (1) 2 引用文件 (1) 3 名词术语 (1) 4 概述 (1) 5 计量特性 (2) 5.1 电阻测量基本误差 (2) 5.2 开路电压最大允许误差 (3) 5.3 测量电极的基本要求 (3) 5.4 安全性能要求 (3) 6 校准条件 (3) 6.1 环境条件 (3) 6.2 测量标准及其他设备 (3) 7 校准项目和校准方法 (4) 7.1 校准项目 (4) 7.2 校准方法 (4) 8 校准结果 (7) 9 复校时间间隔 (7) 附录A 发光二极管显示测试仪的基本参数 (8) 附录B 表面电阻测试仪(数显)校准记录 (9) 附录C 表面电阻测试仪(模拟)校准记录 (11) 附录D 表面电阻测试仪(LED)校准记录 (13) 附录E 校准证书内页格式(数显) (14) 附录F 校准证书内页格式(模拟) (15) 附录G 校准证书内页格式(LED) (16)

引用标准

本规范引用下列文件:
JJF1001—1998 通用计量术语及定义
JJF1059—1999 测量不确定度评定与表示
JJF1094—2002 测量仪器特性评定
JJG690—2003 高绝缘电阻测量仪(高阻计)检定规程
GB/T1410—2006/IEC60093:1980 固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法
GB/T10064—2006/IEC60167:1964 测定固体绝缘材料绝缘电阻的试验方法
IEC61340-4-1:2003 地板覆盖层和已安装地板电阻的标准测试方法
ANSI/ESD-S7.1—2005 防静电地板材料特性
使用本规范时,应注意使用上述引用文件的现行有效版本。

所属分类: 食品 制烟 制烟综合 农业 烟草 烟草制品和烟草工业设备